14th IEEE VLSI Test Symposium : = Ap...
IEEE Computer Society., Test Technology Technical Committee.

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  • 14th IEEE VLSI Test Symposium : = April 28-May 1, 1996, Princeton, New Jersey : proceedings /
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
    正題名/作者: 14th IEEE VLSI Test Symposium :/ sponsored by IEEE Computer Society Technical Committee on Test Technology, IEEE Philadelphia Section.
    其他題名: April 28-May 1, 1996, Princeton, New Jersey : proceedings /
    其他題名: Fourteenth IEEE VLSI Test Symposium
    團體作者: IEEE VLSI Test Symposium
    出版者: Los Alamitos, Calif. :IEEE Computer Society Press, : c1996.,
    面頁冊數: xxix, 510 p. :ill. ;28 cm.
    附註: "IEEE Computer Society Press order number PR07304"--T.p. verso.
    標題: Integrated circuits - Very large scale integration -
    ISBN: 0818673044 (pbk.) :
館藏地:  出版年:  卷號: 
館藏
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W0036960 六樓西文書區HC-Z(6F Western Language Books) 01.外借(書)_YB 一般圖書 TK7874 I3274 1996 一般使用(Normal) 在架 0
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