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  • Active probe atomic force microscopy = a practical guide on precision instrumentation /
  • 紀錄類型: 書目-電子資源 : Monograph/item
    正題名/作者: Active probe atomic force microscopy/ by Fangzhou Xia, Ivo W. Rangelow, Kamal Youcef-Toumi.
    其他題名: a practical guide on precision instrumentation /
    作者: Xia, Fangzhou.
    其他作者: Rangelow, Ivo W.
    出版者: Cham :Springer International Publishing : : 2024.,
    面頁冊數: xxiv, 366 p. :ill., digital ;24 cm.
    內容註: Introduction -- Active Probe Design and Fabrication -- Advanced Applications of Active Probes -- Atomic Force Microscope Designs -- AFM System using Active Probe -- A Low-cost AFM Design for Engineering Education -- Appendix.
    Contained By: Springer Nature eBook
    標題: Atomic force microscopy. -
    電子資源: https://doi.org/10.1007/978-3-031-44233-9
    ISBN: 9783031442339
館藏地:  出版年:  卷號: 
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  • 1 筆 • 頁數 1 •
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