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發明專利實體審查基準 / . (二)Substantive examination guidelines for invention patent(二)

Record Type:	Language materials, printed : Monograph/item
Title/Author:	發明專利實體審查基準 / / 張仁平編著.
Author:	張仁平
Published:	臺北市 : 經濟部智慧財產局, : 2007[民96],
Description:	370面 ; 21公分
Subject:	專利 - 標準 -
ISBN:	9789860076936

發明專利實體審查基準 / . (二)Substantive examination guidelines for invention patent(二)
張仁平

發明專利實體審查基準 / (二)Substantive examination guidelines for invention patent(二)張仁平編著. - 二版 - 臺北市 : 經濟部智慧財產局, 2007[民96] - 370面 ; 21公分 - 智慧財產培訓學院教材 ; 8. - 智慧財產培訓學院教材 ; 8.

含參考文獻:面367

ISBN: 9789860076936NT$450Subjects--Topical Terms:

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專利
--標準

發明專利實體審查基準 / . (二)Substantive examination guidelines for invention patent(二)
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四樓中文書區000-599(4F Eastern Language Books)

01.外借(書)_YB

一般圖書

440.61 1652 2007 v.2

一般使用(Normal)

On shelf

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GE0096030

四樓中文書區000-599(4F Eastern Language Books)

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