微納米MOS器件可靠性與失效機理 /
郝躍

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  • 微納米MOS器件可靠性與失效機理 /
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
    正題名/作者: 微納米MOS器件可靠性與失效機理 / / 郝躍,劉虹俠著
    其他題名: 微纳米MOS器件可靠性与失效机理
    作者: 郝躍
    其他作者: 劉虹俠
    出版者: 北京市 : 科學出版社, : 2008[民97],
    面頁冊數: 14,446面 : 圖,表 ; 24公分
    標題: 奈米 -
    ISBN: 9787030205865
館藏地:  出版年:  卷號: 
館藏
  • 1 筆 • 頁數 1 •
 
E0636770 四樓中文書區000-599(4F Eastern Language Books) 01.外借(書)_YB 一般圖書 448.65 4767 2008 一般使用(Normal) 在架 0
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