最新集成電路測試技術 /
高成

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  • 最新集成電路測試技術 /
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
    正題名/作者: 最新集成電路測試技術 / / 高成,張棟,王香芬編著
    其他題名: 最新集成电路测试技术
    作者: 高成
    其他作者: 張棟
    出版者: 北京市 : 國防工業出版社, : 2009[民98],
    面頁冊數: 6,290面 : 圖,表 ; 26公分
    標題: 電路 -
    ISBN: 9787118060713
館藏地:  出版年:  卷號: 
館藏
  • 1 筆 • 頁數 1 •
 
E0636733 四樓中文書區000-599(4F Eastern Language Books) 01.外借(書)_YB 一般圖書 448.62 0053 2009 一般使用(Normal) 在架 0
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