Power-aware testing and test strateg...
Girard, Patrick.

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  • Power-aware testing and test strategies for low power devices
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
    正題名/作者: Power-aware testing and test strategies for low power devices/ edited by Patrick Girard, Nicola Nicolici, Xiaoqing Wen.
    其他作者: Girard, Patrick.
    出版者: Boston, MA :Springer Science+Business Media, LLC, : 2010.,
    面頁冊數: 382 p. :ill., digital ;24 cm.
    Contained By: Springer eBooks
    標題: Low voltage integrated circuits - Power supply. -
    電子資源: http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0928-2
    ISBN: 9781441909275 (paper)
館藏地:  出版年:  卷號: 
館藏
  • 1 筆 • 頁數 1 •
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