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  • 發明專利實體審查基準 = = Guidelines for substantive examination of invention patent(1) : Compilation of international regulations and case studies : 國際法規與案例彙編 / . (一)
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
    正題名/作者: 發明專利實體審查基準 = / 張仁平編著.
    其他題名: Guidelines for substantive examination of invention patent(1) : Compilation of international regulations and case studies : 國際法規與案例彙編 /
    其他題名: Guidelines for substantive examination of invention patent(1)
    作者: 張仁平
    出版者: 台北市 : 經濟部智慧財產局, : 2010[民99] ,
    面頁冊數: [9],311,[3]面 : 圖 ; 21公分
    標題: 專利法規 -
    ISBN: 9789860213881
館藏地:  出版年:  卷號: 
館藏
  • 1 筆 • 頁數 1 •
 
GE0106760 四樓中文書區000-599(4F Eastern Language Books) 01.外借(書)_YB 一般圖書 440.61 1121 2010 v.1 一般使用(Normal) 在架 0
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