高效能電流感測記憶體之測試架構設計 = = High Performa...
何銘宏

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  • 高效能電流感測記憶體之測試架構設計 = = High Performance Testing Architecture Design Based on CMSA SRAM /
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
    正題名/作者: 高效能電流感測記憶體之測試架構設計 = / 何銘宏撰
    其他題名: High Performance Testing Architecture Design Based on CMSA SRAM /
    其他題名: High Performance Testing Architecture Design Based on CMSA SRAM
    作者: 何銘宏
    其他作者: 許鈞瓏
    出版者: [花蓮縣壽豐鄉 : 國立東華大學電機工程學系], : 民98[2009],
    面頁冊數: [9],64面 : 圖,表 ; 30公分
    附註: 指導教授︰許鈞瓏
    電子資源: http://etd.lib.ndhu.edu.tw/ETD-db/ETD-search-c/view_etd?URN=etd-0727109-155246PDF全文
館藏地:  出版年:  卷號: 
館藏
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GE0100438 五樓論文區 (5F Theses & Dissertations) 03.不外借_N 本校博士論文 TD 448.6 2183 2009 一般使用(Normal) 在架 0
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