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以餘商運算編碼為基礎之可測試性二維離散餘弦轉換電路 = = Desig...

蔡沐昌

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博客來

以餘商運算編碼為基礎之可測試性二維離散餘弦轉換電路 = = Design for Testability of 2D-DCT Based on RQ Codes /

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
正題名/作者:	以餘商運算編碼為基礎之可測試性二維離散餘弦轉換電路 = / 蔡沐昌撰
其他題名:	Design for Testability of 2D-DCT Based on RQ Codes /
其他題名:	Design for Testability of 2D-DCT Based on RQ Codes
作者:	蔡沐昌
其他作者:	許鈞瓏
出版者:	[花蓮縣壽豐鄉 : 國立東華大學電機工程學系], : 民98[2009],
面頁冊數:	7,68,5面 : 圖,表 ; 30公分
附註:	指導教授︰許鈞瓏
標題:	加速 -
電子資源:	http://etd.lib.ndhu.edu.tw/ETD-db/ETD-search-c/view_etd?URN=etd-0723109-135353PDF全文

以餘商運算編碼為基礎之可測試性二維離散餘弦轉換電路 = = Design for Testability of 2D-DCT Based on RQ Codes /
蔡沐昌

以餘商運算編碼為基礎之可測試性二維離散餘弦轉換電路 = Design for Testability of 2D-DCT Based on RQ Codes / Design for Testability of 2D-DCT Based on RQ Codes蔡沐昌撰 - [花蓮縣壽豐鄉 : 國立東華大學電機工程學系], 民98[2009] - 7,68,5面 : 圖,表 ; 30公分

指導教授︰許鈞瓏

碩士論文--國立東華大學電機工程學系,2009

含參考書目Subjects--Topical Terms:

2880938
加速

以餘商運算編碼為基礎之可測試性二維離散餘弦轉換電路 = = Design for Testability of 2D-DCT Based on RQ Codes /
LDR:00800nam 2200193 i 4500 001 802650
005 20110201005503.0
008 170419n2009uuuuch e b 000 u chi d
035 $a NDHU9809359
035 $a 802650
040 $a NDHU $b chi $e ccr
066 $c $1
100 1 $a 蔡沐昌 $e 撰 $3 2880937
245 1 0 $a 以餘商運算編碼為基礎之可測試性二維離散餘弦轉換電路 = $b Design for Testability of 2D-DCT Based on RQ Codes / $c 蔡沐昌撰
246 1 1 $a Design for Testability of 2D-DCT Based on RQ Codes
260 $a [花蓮縣壽豐鄉 : $b 國立東華大學電機工程學系], $c 民98[2009]
300 $a 7,68,5面 : $b 圖,表 ; $c 30公分
500 $a 指導教授︰許鈞瓏
502 $a 碩士論文--國立東華大學電機工程學系,2009
504 $a 含參考書目
650 7 $a 加速 $2 csht $3 2880938
650 7 $a 測試 $2 csht $3 2464535
650 4 $a 離散餘弦轉換 $3 2614025
700 1 $a 許鈞瓏 $e 指導教授 $3 2880936
710 2 $a 國立東華大學 $b 電機工程學系 $3 2692584
856 7 $u http://etd.lib.ndhu.edu.tw/ETD-db/ETD-search-c/view_etd?URN=etd-0723109-135353 $z PDF全文 $2 http