Physical Principles of Electron Micr...
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  • Physical Principles of Electron Microscopy = An Introduction to TEM, SEM, and AEM /
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
    正題名/作者: Physical Principles of Electron Microscopy/ by Ray F. Egerton.
    其他題名: An Introduction to TEM, SEM, and AEM /
    作者: Egerton, Ray F..
    出版者: Boston, MA :Springer Science+Business Media, Inc., : 2005.,
    面頁冊數: xii, 202 p. :ill., digital ;25 cm.
    Contained By: Springer e-books
    標題: Electron microscopy. -
    電子資源: http://dx.doi.org/10.1007/b136495http://dx.doi.org/10.1007/b136495
    ISBN: 9780387258003 (paper)
館藏地:  出版年:  卷號: 
館藏
  • 1 筆 • 頁數 1 •
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