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VLSI測試方法學和可測性設計 /

~

雷紹充

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VLSI測試方法學和可測性設計 /

紀錄類型:	書目-電子資源 : Monograph/item
正題名/作者:	VLSI測試方法學和可測性設計 / / 雷紹充, 邵志標, 梁峰著
作者:	雷紹充
其他作者:	邵志標
出版者:	北京 : 電子工業出版社, : 2005,
標題:	超大規模集成電路 -
電子資源:	http://cec.lib.apabi.com:80/product.asp?BookID=m%2e20060926%2dm005%2dw009%2d011點擊此處查看電子書
ISBN:	7121003791 :

VLSI測試方法學和可測性設計 /
雷紹充

VLSI測試方法學和可測性設計 / [電子資源] / 雷紹充, 邵志標, 梁峰著 - 北京 : 電子工業出版社, 2005

本書主要內容為電路測試、分析的基本概念和理論，數字電路的描述和模擬方法，組合電路和時序電路的測試生成方法，專用可測性設計，掃描和邊界掃描理論，IDDQ測試，隨機和偽隨機測試原理，各種測試生成電路結構及其生成序列之間的關係，與M序列相關的其他測試生成方法，內建自測試原理，各種數據壓縮結構和壓縮關係，專用電路Memory和SoC等的可測性設計方法。

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ISBN: 7121003791 : CNY9.93Subjects--Topical Terms:

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超大規模集成電路

VLSI測試方法學和可測性設計 /
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