東華大學圖書館 |

語系: 繁體中文

登入

回首頁

切換: 標籤 | MARC模式 | ISBD

FindBook

Amazon

博客來

發明專利實體審查基準 = = Guideines for substantive examination of invention patent / . (一)

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
正題名/作者:	發明專利實體審查基準 = / 蔡瑟珍編著.
其他題名:	Guideines for substantive examination of invention patent /
作者:	蔡瑟珍
出版者:	臺北市 : 經濟部智慧財產局, : 2007[民96],
面頁冊數:	192面 : 圖 ; 21公分
標題:	專利 - 標準 -
ISBN:	9789860051612

發明專利實體審查基準 = = Guideines for substantive examination of invention patent / . (一)
蔡瑟珍

發明專利實體審查基準 = Guideines for substantive examination of invention patent / (一)蔡瑟珍編著. - 初版 - 臺北市 : 經濟部智慧財產局, 2007[民96] - 192面 : 圖 ; 21公分 - 智慧財產培訓學院教材 ; 5. - 智慧財產培訓學院教材 ; 5.

含參考文獻:面183

ISBN: 9789860051612NT$250Subjects--Topical Terms:

2638971
專利
--標準

發明專利實體審查基準 = = Guideines for substantive examination of invention patent / . (一)
LDR:00712nam 2200217 i 4500 001 226770
005 20110131184117.0
008 170416s2007 ch 000 u chi d
017 $2 rocgpt $a 1009501034
020 $a 9789860051612 $q (平裝) : $c NT$250
020 $a 9860051615 $q (平裝) : $c NT$250
035 $a 政府出版品
035 $a 226770
040 $a NDHU $b chi $e ccr
066 $c $1
100 1 $a 蔡瑟珍 $e 編著 $3 2641887
245 1 0 $a 發明專利實體審查基準 = $b Guideines for substantive examination of invention patent / $c 蔡瑟珍編著. $n (一)
250 $a 初版
260 $a 臺北市 : $b 經濟部智慧財產局, $c 2007[民96]
300 $a 192面 : $b 圖 ; $c 21公分
490 1 $a 智慧財產培訓學院教材 ; $v 5
504 $a 含參考文獻:面183
504 $a 含附錄
650 7 $a 專利 $x 標準 $2 csht $3 2638971
830 0 $a 智慧財產培訓學院教材 ; $v 5 $3 2641888