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  • 發明專利實體審查基準 / . (二)Substantive examination guidelines for invention patent(二)
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
    正題名/作者: 發明專利實體審查基準 / / 張仁平編著.
    作者: 張仁平
    出版者: 臺北市 : 經濟部智慧財產局, : 2007[民96],
    面頁冊數: 370面 ; 21公分
    標題: 專利 - 標準 -
    ISBN: 9789860076936
館藏地:  出版年:  卷號: 
館藏
  • 2 筆 • 頁數 1 •
 
GE0076841 四樓中文書區000-599(4F Eastern Language Books) 01.外借(書)_YB 一般圖書 440.61 1652 2007 v.2 一般使用(Normal) 在架 0
GE0096030 四樓中文書區000-599(4F Eastern Language Books) 01.外借(書)_YB 一般圖書 440.61 1652 2007 v.2 一般使用(Normal) 在架 0
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