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發明專利實體審查基準 / . (二)Substantive examination guidelines for invention patent(二)
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
正題名/作者:
發明專利實體審查基準 / / 張仁平編著.
作者:
張仁平
出版者:
臺北市 : 經濟部智慧財產局, : 2007[民96],
面頁冊數:
370面 ; 21公分
標題:
專利 - 標準 -
ISBN:
9789860076936
發明專利實體審查基準 / . (二)Substantive examination guidelines for invention patent(二)
張仁平
發明專利實體審查基準 /
(二)Substantive examination guidelines for invention patent(二)張仁平編著. - 二版 - 臺北市 : 經濟部智慧財產局, 2007[民96] - 370面 ; 21公分 - 智慧財產培訓學院教材 ; 8. - 智慧財產培訓學院教材 ; 8.
含參考文獻:面367
ISBN: 9789860076936NT$450Subjects--Topical Terms:
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專利
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發明專利實體審查基準 / . (二)Substantive examination guidelines for invention patent(二)
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館藏地:
全部
四樓中文書區000-599(4F Eastern Language Books)
出版年:
卷號:
館藏
2 筆 • 頁數 1 •
1
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典藏地名稱
館藏流通類別
資料類型
索書號
使用類型
借閱狀態
預約狀態
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GE0076841
四樓中文書區000-599(4F Eastern Language Books)
01.外借(書)_YB
一般圖書
440.61 1652 2007 v.2
一般使用(Normal)
在架
0
預約
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