發明專利實體審查基準 = = Guidelines for subst...
張仁平

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  • 發明專利實體審查基準 = = Guidelines for substantive examination of invention patent(一) : compilation of international regulations and case studies : 國際法規與案彙編 / . (一)
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
    正題名/作者: 發明專利實體審查基準 = / 張仁平,謝銘洋編著.
    其他題名: Guidelines for substantive examination of invention patent(一) : compilation of international regulations and case studies : 國際法規與案彙編 /
    其他題名: 國際法規與案彙編
    作者: 張仁平
    其他作者: 謝銘洋
    出版者: 臺北市 : 經濟部智慧財產局, : 2007[民96],
    面頁冊數: 306面 ; 21公分
    標題: 專利 - 標準 -
    ISBN: 9789860078930
館藏地:  出版年:  卷號: 
館藏
  • 2 筆 • 頁數 1 •
 
GE0076840 四樓中文書區000-599(4F Eastern Language Books) 01.外借(書)_YB 一般圖書 440.61 1121 v.1 一般使用(Normal) 在架 0
GE0096061 四樓中文書區000-599(4F Eastern Language Books) 01.外借(書)_YB 一般圖書 440.61 1121 2007 v.1 一般使用(Normal) 在架 0
  • 2 筆 • 頁數 1 •
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