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發明專利實體審查基準 = = Guidelines for subst...
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張仁平
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發明專利實體審查基準 = = Guidelines for substantive examination of invention patent(一) : compilation of international regulations and case studies : 國際法規與案彙編 / . (一)
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
正題名/作者:
發明專利實體審查基準 = / 張仁平,謝銘洋編著.
其他題名:
Guidelines for substantive examination of invention patent(一) : compilation of international regulations and case studies : 國際法規與案彙編 /
其他題名:
國際法規與案彙編
作者:
張仁平
其他作者:
謝銘洋
出版者:
臺北市 : 經濟部智慧財產局, : 2007[民96],
面頁冊數:
306面 ; 21公分
標題:
專利 - 標準 -
ISBN:
9789860078930
發明專利實體審查基準 = = Guidelines for substantive examination of invention patent(一) : compilation of international regulations and case studies : 國際法規與案彙編 / . (一)
張仁平
發明專利實體審查基準 =
Guidelines for substantive examination of invention patent(一) : compilation of international regulations and case studies : 國際法規與案彙編 / (一)國際法規與案彙編張仁平,謝銘洋編著. - 初版 - 臺北市 : 經濟部智慧財產局, 2007[民96] - 306面 ; 21公分 - 智慧財產培訓學院教材 ; 47. - 智慧財產培訓學院教材 ; 47.
含參考文獻:面303
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館藏地:
全部
四樓中文書區000-599(4F Eastern Language Books)
出版年:
卷號:
館藏
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四樓中文書區000-599(4F Eastern Language Books)
01.外借(書)_YB
一般圖書
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