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發明專利實體審查基準 = = Guidelines for substantive examination of invention patent /
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
正題名/作者:
發明專利實體審查基準 = / 張仁平編著
其他題名:
Guidelines for substantive examination of invention patent /
其他題名:
Guidelines for substantive examination of invention patent
作者:
張仁平
出版者:
臺北市 : 經濟部智慧財產局, : 2014[民103],
面頁冊數:
[11],377面 : 圖 ; 21公分
附註:
指導單位:經濟部智慧財產局
標題:
專利法規 -
ISBN:
9789860404630
發明專利實體審查基準 = = Guidelines for substantive examination of invention patent /
張仁平
發明專利實體審查基準 =
Guidelines for substantive examination of invention patent / Guidelines for substantive examination of invention patent張仁平編著 - 初版 - 臺北市 : 經濟部智慧財產局, 2014[民103] - [11],377面 : 圖 ; 21公分 - 智慧財產培訓學院教材 ; 8. - 智慧財產培訓學院教材 ; 8.
指導單位:經濟部智慧財產局
ISBN: 9789860404630新台幣400元Subjects--Topical Terms:
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專利法規
發明專利實體審查基準 = = Guidelines for substantive examination of invention patent /
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館藏地:
全部
四樓中文書區000-599(4F Eastern Language Books)
出版年:
卷號:
館藏
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資料類型
索書號
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GE0144400
四樓中文書區000-599(4F Eastern Language Books)
01.外借(書)_YB
一般圖書
440.61 1121-2 2014
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