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半導體材料測試與分析 /

~

楊德仁

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半導體材料測試與分析 /

Record Type:	Language materials, printed : Monograph/item
Title/Author:	半導體材料測試與分析 / / 楊德仁編著
remainder title:	半导体材料测试与分析
Author:	楊德仁
Published:	北京市 : 科學出版社, : 2010[民99],
Description:	11,381面 : 圖 ; 24公分
Subject:	半導體材料 - 測試 -
ISBN:	9787030270368

半導體材料測試與分析 /
楊德仁

半導體材料測試與分析 / 半导体材料测试与分析楊德仁編著 - 第一版 - 北京市 : 科學出版社, 2010[民99] - 11,381面 : 圖 ; 24公分 - 半導體科學與技術叢書. - 半導體科學與技術叢書.

含參考書目

ISBN: 9787030270368人民幣78元Subjects--Topical Terms:

2962618
半導體材料
--測試

半導體材料測試與分析 /
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01.外借(書)_YB

一般圖書

448.65 4622 2010

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