Nanometer technology designs = high-...
Ahmed, Nisar.

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  • Nanometer technology designs = high-quality delay tests /
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
    正題名/作者: Nanometer technology designs/ by Mohammad Tehranipoor, Nisar Ahmed.
    其他題名: high-quality delay tests /
    作者: Tehranipoor, Mohammad.
    其他作者: Ahmed, Nisar.
    出版者: Boston, MA :Springer US, : 2008.,
    面頁冊數: xvii, 281 p. :ill., digital ;24 cm.
    Contained By: Springer eBooks
    標題: Integrated circuits - Testing. -
    電子資源: http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-75728-5
    ISBN: 9780387757285 (electronic bk.)
館藏地:  出版年:  卷號: 
館藏
  • 1 筆 • 頁數 1 •
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