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以餘商運算編碼為基礎之可測試性二維離散餘弦轉換電路 = = Desig...

蔡沐昌

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博客來

以餘商運算編碼為基礎之可測試性二維離散餘弦轉換電路 = = Design for Testability of 2D-DCT Based on RQ Codes /

Record Type:	Language materials, printed : Monograph/item
Title/Author:	以餘商運算編碼為基礎之可測試性二維離散餘弦轉換電路 = / 蔡沐昌撰
Reminder of title:	Design for Testability of 2D-DCT Based on RQ Codes /
remainder title:	Design for Testability of 2D-DCT Based on RQ Codes
Author:	蔡沐昌
other author:	許鈞瓏
Published:	[花蓮縣壽豐鄉 : 國立東華大學電機工程學系], : 民98[2009],
Description:	7,68,5面 : 圖,表 ; 30公分
Notes:	指導教授︰許鈞瓏
Subject:	加速 -
Online resource:	http://etd.lib.ndhu.edu.tw/ETD-db/ETD-search-c/view_etd?URN=etd-0723109-135353PDF全文

以餘商運算編碼為基礎之可測試性二維離散餘弦轉換電路 = = Design for Testability of 2D-DCT Based on RQ Codes /
蔡沐昌

以餘商運算編碼為基礎之可測試性二維離散餘弦轉換電路 = Design for Testability of 2D-DCT Based on RQ Codes / Design for Testability of 2D-DCT Based on RQ Codes蔡沐昌撰 - [花蓮縣壽豐鄉 : 國立東華大學電機工程學系], 民98[2009] - 7,68,5面 : 圖,表 ; 30公分

指導教授︰許鈞瓏

碩士論文--國立東華大學電機工程學系,2009

含參考書目Subjects--Topical Terms:

2880938
加速

以餘商運算編碼為基礎之可測試性二維離散餘弦轉換電路 = = Design for Testability of 2D-DCT Based on RQ Codes /
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