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Semiconductor material and device ch...
~
Schroder, Dieter K.
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博客來
Semiconductor material and device characterization /
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
正題名/作者:
Semiconductor material and device characterization // Dieter K. Schroder.
作者:
Schroder, Dieter K.
出版者:
New York :Wiley, : c1990.,
面頁冊數:
xv, 599 p. :ill. ;25 cm.
附註:
"A Wiley-Interscience publication."
標題:
Semiconductors - Testing. -
ISBN:
0471511048 :
Semiconductor material and device characterization /
Schroder, Dieter K.
Semiconductor material and device characterization /
Dieter K. Schroder. - New York :Wiley,c1990. - xv, 599 p. :ill. ;25 cm.
"A Wiley-Interscience publication."
Includes bibliographical references and index.
ISBN: 0471511048 :NT750Subjects--Topical Terms:
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Semiconductors
--Testing.
LC Class. No.: QC611 / .S335 1990
Dewey Class. No.: 621.381/52
Semiconductor material and device characterization /
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館藏地:
全部
六樓西文書區HC-Z(6F Western Language Books)
出版年:
卷號:
館藏
2 筆 • 頁數 1 •
1
條碼號
典藏地名稱
館藏流通類別
資料類型
索書號
使用類型
借閱狀態
預約狀態
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附件
W0036764
六樓西文書區HC-Z(6F Western Language Books)
01.外借(書)_YB
一般圖書
QC611 S381 1990
一般使用(Normal)
在架
0
預約
GW0004216
六樓西文書區HC-Z(6F Western Language Books)
01.外借(書)_YB
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