語系:
繁體中文
English
說明(常見問題)
回圖書館首頁
手機版館藏查詢
登入
回首頁
切換:
標籤
|
MARC模式
|
ISBD
電子元器件失效分析及應用 /
~
夏泓
FindBook
Google Book
Amazon
博客來
電子元器件失效分析及應用 /
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
正題名/作者:
電子元器件失效分析及應用 / / 夏泓主編,鄭鵬洲副主編
其他作者:
夏泓
出版者:
北京 : 國防工業出版社, : 1998[民87],
面頁冊數:
XVI,155面 : 圖,表格 ; 20公分
標題:
電子電路 -
ISBN:
7118018112
電子元器件失效分析及應用 /
電子元器件失效分析及應用 /
夏泓主編,鄭鵬洲副主編 - 北京 : 國防工業出版社, 1998[民87] - XVI,155面 : 圖,表格 ; 20公分 - 可靠性.維修性.保障性叢書 ; 8. - 可靠性.維修性.保障性叢書 ; 8.
參考書目: 面154-5
ISBN: 7118018112人民幣8元Subjects--Topical Terms:
2318480
電子電路
電子元器件失效分析及應用 /
LDR
:00550nam 2200169 ir4500
001
57663
005
20110131153944.0
008
170413s1998 cc b 000 u chi d
020
$a
7118018112
$q
(平裝) :
$c
人民幣8元
035
$a
LIB-BE-89-29-146
035
$a
57663
040
$a
東華
$b
chi
$e
ccr
066
$c
$1
245
1 0
$a
電子元器件失效分析及應用 /
$c
夏泓主編,鄭鵬洲副主編
260
$a
北京 :
$b
國防工業出版社,
$c
1998[民87]
300
$a
XVI,155面 :
$b
圖,表格 ;
$c
20公分
490
1
$a
可靠性.維修性.保障性叢書 ;
$v
8
504
$a
參考書目: 面154-5
650
7
$a
電子電路
$2
csht
$3
2318480
700
1
$a
夏泓
$e
主編
$3
2327533
700
1
$a
鄭鵬洲
$e
副主編
$3
2327534
830
0
$a
可靠性.維修性.保障性叢書 ;
$v
8
$3
2327535
筆 0 讀者評論
館藏地:
全部
罕用書庫123室(美崙校區,調書請點預約)(RU_123)
出版年:
卷號:
館藏
1 筆 • 頁數 1 •
1
條碼號
典藏地名稱
館藏流通類別
資料類型
索書號
使用類型
借閱狀態
預約狀態
備註欄
附件
E0041702
罕用書庫123室(美崙校區,調書請點預約)(RU_123)
01.外借(書)_YB
一般圖書
448.873 1033
一般使用(Normal)
在架
0
預約
1 筆 • 頁數 1 •
1
評論
新增評論
分享你的心得
Export
取書館
處理中
...
變更密碼
登入