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X射線衍射分析原理與應用 /

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劉粵惠

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X射線衍射分析原理與應用 /

紀錄類型:	書目-電子資源 : Monograph/item
正題名/作者:	X射線衍射分析原理與應用 / / 劉粵惠, 劉平安編著
作者:	劉粵惠
其他作者:	劉平安
出版者:	北京 : 化學工業出版社, : 2003,
標題:	X射線衍射分析 -
電子資源:	http://cec.lib.apabi.com:80/product.asp?BookID=ISBN7%2d5025%2d4830%2d0點擊此處查看電子書
ISBN:	7502548300 :

X射線衍射分析原理與應用 /
劉粵惠

X射線衍射分析原理與應用 / [電子資源] / 劉粵惠, 劉平安編著 - 北京 : 化學工業出版社, 2003

由於X射線衍射分析方法具有用量少、對樣品的非破壞性、大面積的平均性、對結構和缺陷的靈敏性等特性，使得X射線衍射分析方法的應用範圍不斷拓展，廣泛應用於物理學、化學、分子物理學、醫學、藥學、金屬學、材料學、高分子科學、工程技術學、地質學、礦物學等學科領域。

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ISBN: 7502548300 : CNY8.33Subjects--Topical Terms:

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X射線衍射分析

X射線衍射分析原理與應用 /
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E9032807

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