語系: 繁體中文

說明(常見問題)

回圖書館首頁

手機版館藏查詢

登入

語系

英文 (1)

跳至 : 概要 | 書目資訊 | 主題

Demers, Hendrix.

概要

作品:	5 作品在 1 項出版品 1 種語言

書目資訊

Field emission scanning electron microscopy = new perspectives for materials characterization / by: Brodusch, Nicolas.; Demers, Hendrix.; Gauvin, Raynald.; SpringerLink (Online service) (書目-電子資源)

主題

Materials- Testing. Spectroscopy and Microscopy. Materials Science. Scanning electron microscopy. Nanotechnology and Microengineering. Characterization and Evaluation of Materials.

變更密碼

登入