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[ subject:"Materials- Microscopy."]
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Microscopy techniques for materials ...
~
Eberhardt, C. N. (1975-)
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博客來
Microscopy techniques for materials science /
by:
Eberhardt, C. N. (1975-); Clarke, A. R. (1947-)
書目-語言資料,印刷品
: Monograph/item
出版者:
CRC Press ;; Woodhead Pub.,
出版地:
Cambridge, England :
出版年:
2002
ISBN:
0849315522; 1855735873
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.
Acoustic microscopy
~
Kolosov, O. V.
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Acoustic microscopy
by:
Kolosov, O. V.; Briggs, Andrew.
書目-語言資料,印刷品
: Monograph/item
出版者:
Oxford University Press,
出版地:
Oxford :
出版年:
2010
ISBN:
9780199232734
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3
.
Microscopy techniques for materials ...
~
Eberhardt, C. N. (1975-)
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博客來
Microscopy techniques for materials science
by:
Eberhardt, C. N. (1975-); NetLibrary, Inc.; Clarke, A. R. (1947-)
書目-語言資料,印刷品
: Monograph/item
出版者:
CRC Press ;; Woodhead Pub.,
出版地:
Cambridge, England :
出版年:
2002
ISBN:
1855737507
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4
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Nano and microstructural design of a...
~
Thomas, Gareth, (1932-)
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Nano and microstructural design of advanced materials = a commemorative volume on Professor G. Thomas' seventieth birthday /
by:
Thomas, Gareth, (1932-); Meyers, Marc A.; Ritchie, R. O.; Sarikaya, Mehmet.
書目-電子資源
: Monograph/item
出版者:
Elsevier,
出版地:
Boston :
出版年:
2003
ISBN:
0080443737; 9780080443737
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5
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Characterization of materials /
~
Cahn, R. W. (1924-)
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Characterization of materials /
by:
Cahn, R. W. (1924-); Haasen, P.; Kramer, E. J.; Lifshin, Eric.
書目-語言資料,印刷品
: Monograph/item
出版者:
VCH,
出版地:
Weinheim ;
出版年:
1992
ISBN:
089573690X; 1560811285; 1560811900; 3527268138; 3527268154; 3527282653
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Transmission electron microscopy : =...
~
Carter, C. Barry.
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Transmission electron microscopy : = a textbook for materials science /
by:
Carter, C. Barry.; Williams, David B. (1949-)
書目-語言資料,印刷品
: Monograph/item
出版者:
Plenum Press,
出版地:
New York :
出版年:
1996
ISBN:
0306452472; 030645324X
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High-resolution imaging and spectrom...
~
Ernst, F. (1938-.)
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High-resolution imaging and spectrometry of materials /
by:
Ernst, F. (1938-.); Ruhle, Manfred.
書目-語言資料,印刷品
: Monograph/item
出版者:
Springer,
出版地:
New York :
出版年:
2003
ISBN:
3540418180
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Applied scanning probe methods /
~
Bhushan, Bharat, (1949-.)
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Applied scanning probe methods /
by:
Bhushan, Bharat, (1949-.); Fuchs, H.; Hosaka, Sumio.
書目-語言資料,印刷品
: Monograph/item
出版者:
Springer,
出版地:
New York :
出版年:
2004
ISBN:
3540005277; 3540269096; 3540269126; 5340262423; 9783540005278; 9783540269090; 9783540269120; 9785340262428
ISSN:
14344904
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Electron backscatter diffraction in ...
~
Schwartz, Adam J.
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Electron backscatter diffraction in materials science /
by:
Schwartz, Adam J.; Kumar, Mukul.; Adams, B. L.
書目-語言資料,印刷品
: Monograph/item
出版者:
Kluwer Academic,
出版地:
New York :
出版年:
2000
ISBN:
030646487X
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Particle beam microanalysis : = fund...
~
Oppolzer, Helmut.
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Particle beam microanalysis : = fundamentals, methods, and applications /
by:
Oppolzer, Helmut.; Rehme, Hans.; Fuchs, Ekkehard.
書目-語言資料,印刷品
: Monograph/item
出版者:
VCH,
出版地:
Weinheim, F.R.G. ;
出版年:
1990
ISBN:
0895735059; 3527268847
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Scanning probe microscopy in industr...
~
Yablon, Dalia G., (1975-)
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Scanning probe microscopy in industrial applications = nanomechanical characterization /
by:
Yablon, Dalia G., (1975-)
書目-電子資源
: Monograph/item
出版者:
Wiley,
出版地:
Hoboken, New Jersey :
出版年:
2014
ISBN:
1118723112; 9781118723111; 9781118723142
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Transmission electron microscopy and...
~
Howe, James M., (1955-)
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博客來
Transmission electron microscopy and diffractometry of materials /
by:
Howe, James M., (1955-); Fultz, B.
書目-語言資料,印刷品
: Monograph/item
出版者:
Springer,
出版地:
Berlin ;
出版年:
2002
ISBN:
3540437649
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Transmission electron microscopy and...
~
Howe, James M., (1955-)
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博客來
Transmission electron microscopy and diffractometry of materials /
by:
Howe, James M., (1955-); Fultz, B.
書目-語言資料,印刷品
: Monograph/item
出版者:
Springer,
出版地:
New York :
出版年:
2001
ISBN:
3540678417
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Transmission electron microscopy and...
~
Fultz, B.
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博客來
Transmission electron microscopy and diffractometry of materials /
by:
Fultz, B.; Howe, James M., (1955-)
書目-語言資料,印刷品
: Monograph/item
出版者:
Springer,
出版地:
Heidelberg :
出版年:
2013
ISBN:
3642297609; 3642297617; 9783642297601; 9783642297618
ISSN:
18684521; 18684513
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Local structure from diffraction
~
Billinge, S. J. L.
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博客來
Local structure from diffraction
by:
Billinge, S. J. L.; Thorpe, M. F.; NetLibrary, Inc.; Conference on Local Structure from Diffraction ((1997 :)
書目-語言資料,印刷品
: Monograph/item
出版者:
Kluwer Academic,
出版地:
New York :
出版年:
2002
ISBN:
0306470772
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Local structure from diffraction
~
Billinge, S. J. L.
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Local structure from diffraction
by:
Billinge, S. J. L.; Thorpe, M. F.; SpringerLink (Online service); Conference on Local Structure from Diffraction ((1997 :)
書目-語言資料,印刷品
: Monograph/item
出版者:
Plenum Press,
出版地:
New York :
出版年:
2002
ISBN:
9780306458279; 9780306470776
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Electron backscatter diffraction in ...
~
Schwartz, Adam J.
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Electron backscatter diffraction in materials science
by:
Schwartz, Adam J.; SpringerLink (Online service)
書目-語言資料,印刷品
: Monograph/item
出版者:
Springer Science+Business Media, LLC,
出版地:
Boston, MA :
出版年:
2009
ISBN:
9780387881355; 9780387881362
館藏流通狀態
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Transmission Electron Microscopy and...
~
Howe, James M.
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博客來
Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
by:
Howe, James M.; SpringerLink (Online service); Fultz, Brent.
書目-語言資料,印刷品
: Monograph/item
出版者:
Springer-Verlag Berlin Heidelberg,
出版地:
Berlin, Heidelberg :
出版年:
2008
ISBN:
9783540738855; 9783540738862
館藏流通狀態
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.
Applied Scanning Probe Methods. = Ch...
~
Bhushan, Bharat.
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博客來
Applied Scanning Probe Methods. = Characterization /. IX
by:
Bhushan, Bharat.; Fuchs, Harald.; Tomitori, Masahiko.; SpringerLink (Online service)
書目-語言資料,印刷品
: Monograph/item
出版者:
Springer-Verlag,
出版地:
Berlin, Heidelberg :
出版年:
2008
ISBN:
9783540740827; 9783540740834
館藏流通狀態
:
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Applied Scanning Probe Methods. = Bi...
~
Bhushan, Bharat.
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Applied Scanning Probe Methods. = Biomimetics and Industrial Applications /. X
by:
Bhushan, Bharat.; Fuchs, Harald.; Tomitori, Masahiko.; SpringerLink (Online service)
書目-語言資料,印刷品
: Monograph/item
出版者:
Springer-Verlag,
出版地:
Berlin, Heidelberg :
出版年:
2008
ISBN:
9783540740841; 9783540740858
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