謝明憙
概要
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書目資訊
應用於多重塔式三維晶片測試之識別碼選擇電路設計 = = Identify Code Selection Circuit Design for Multi-Tower 3D-SICs Testing /
by:
謝明憙; 許鈞瓏; 林群傑; Hsieh, Ming-Hsi; Hsu, Chun-Lung; Lin, Chun-Chieh
(書目-語言資料,印刷品)