跳至 : 概要 | 書目資訊 | 主題

Kiely, C. J.

概要
作品: 2 作品在 0 項出版品 0 種語言
書目資訊
Electron microscopy and analysis 1999 = proceedings of the Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference, University of Sheffield, 24-27 August 1999 / by: Kiely, C. J.; Institute of Physics (Great Britain)., Electron Microscopy and Analysis Group.; NetLibrary, Inc. (書目-語言資料,印刷品)
 
 
變更密碼
登入