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Huang, William.

概要

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書目資訊

Cryogenic Transmission Electron Microscopy for Next-Generation Batteries. by: Huang, William.; Stanford University. (書目-電子資源)

主題

Silicon. Graphite. Fiber optics. Chemistry. Solvents. Sensors. Lifetime. Electrolytes. Aperture. Analytical chemistry. Fluorides. Optics. Digital cameras. Electric vehicles. Metal oxides. Energy. Collectors. Transportation. Electrodes. Lithium. X rays. Transmission electron microscopy. Carbon.

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